MC
4.1
กล้องจุลทรรศน์
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)
Atomic Force Microscope (AFM)
PARK/NX20 · จำนวน 1 เครื่อง
คำอธิบาย
ใช้เข็มเล็กมากสัมผัสพื้นผิวตัวอย่าง วาดแผนที่ความขรุขระ ความแข็ง และคุณสมบัติอื่นในระดับนาโนเมตร — ไม่ทำลายตัวอย่าง
งานวิจัยที่รองรับ
วัดความหยาบพื้นผิวนาโน, ศึกษาคุณสมบัติทางกลของเซลล์, วิจัย 2D materials
Domain Tags
วัสดุศาสตร์นาโนเทคโนโลยีชีววิทยาเซลล์
สเปค
Contact/Non-contact/Tapping mode; Electrical/Mechanical/Magnetic/Thermal properties
รหัสทดสอบ
MC01-1AMC01-1B