MC
4.9
กล้องจุลทรรศน์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
Scanning Electron Microscope (SEM)
JEOL/JSM-IT500LA · จำนวน 1 เครื่อง
คำอธิบาย
ยิงอิเล็กตรอนบนพื้นผิว สร้างภาพ 3D ความละเอียดระดับนาโน — ดูโครงสร้างพื้นผิวของวัสดุ เซลล์ แบคทีเรีย วิเคราะห์ธาตุด้วย EDS ได้พร้อมกัน
งานวิจัยที่รองรับ
ดูโครงสร้างพื้นผิว, วิเคราะห์ธาตุ (EDS), ดู Nanoparticle
Domain Tags
วัสดุศาสตร์นาโนเทคโนโลยีจุลชีววิทยาชีววิทยาเซลล์
สเปค
3nm resolution at 30kV; EDS; 5x-300,000x; High & Low vacuum; 2kg sample
รหัสทดสอบ
MC09-3AMC09-4AMC09-3DMC09-4D