เทคนิคการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray diffraction: XRD) เเป็นวิธีการวิเคราะห์โครงสร้างผลึกของวัสดุโดยอาศัยการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์เมื่อกระทบกับระนาบอะตอมภายในผลึก ซึ่งมีระยะห่างระหว่างระนาบ (d-spacing) ที่เป็นลักษณะเฉพาะของสารแต่ละชนิด ทำให้เกิดรูปแบบการเลี้ยวเบน (diffraction pattern) ที่แตกต่างกัน รูปแบบดังกล่าวสามารถนำไปใช้ในการระบุชนิดของสารทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ รวมถึงศึกษาความสัมพันธ์ระหว่างโครงสร้างผลึกกับสมบัติของวัสดุ และติดตามการเปลี่ยนแปลงที่เกิดจากกระบวนการผลิตหรือการแปรรูปได้อย่างมีประสิทธิภาพ XRD สามารถประยุกต์ใช้กับตัวอย่างได้หลายรูปแบบ เช่น ผงของแข็ง (powder), ฟิล์มบาง (thin film) และวัสดุหนืด (viscous materials) จึงถูกนำไปใช้อย่างแพร่หลายในหลายสาขา เช่น วัสดุศาสตร์ ธรณีวิทยา อุตสาหกรรมยา อิเล็กทรอนิกส์ และพลังงาน รวมถึงงานวิจัยด้านวัสดุนาโนและวัสดุขั้นสูง

• Synthesis, structural and electrical properties of PVA/TiO2 nanocomposite films with different TiO2 phases prepared by sol-gel technique # URL: https://DOI: 10.1007/s10854-020-04313-7
• Constructing WO3/TiO2 heterojunction with solvothermal-sintering for enhanced photocatalytic activity under visible light irradiation # URL: https://doi.org/10.1016/j.solidstatesciences.2022.106963
• Hierarchical zeolites as adsorbents for mesosulfuron-methyl removal in aqueous phase # URL: https://doi.org/10.1016/j.micromeso.2015.12.014
• Influence of annealing temperature on material properties of red emitting ZnGa2O4: Cr3+ nanostructures # URL:https:// DOI:10.1007/s10971-018-4830-8
• Simple centrifugal fractionation to reduce the size distribution of cellulose nanofibers # URL: https://doi.org/10.1038/s41598-020-68642-7